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田中貴金屬工業發布半導體檢查裝置用鈀合金材料“TK-SK”

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來源 Tanaka Holdings Co., Ltd.

田中貴金屬工業發布半導體檢查裝置用鈀合金材料“TK-SK”

作為鈀合金材料,其硬度達到640HV
可以減少半導體檢查裝置中探針磨損帶來的變形,
有助於延長檢查裝置的使用壽命和降低成本

東京, 2024年10月17日 – (亞太商訊) – 開展工業用貴金屬業務的田中貴金屬集團核心企業——田中貴金屬工業株式會社(總公司:東京都中央區、執行總裁:田中 浩一朗)發布用於半導體封裝後段工序最終測試中的探針用鈀(Pd)合金材料“TK-SK”。本產品將於2024年10月24日至25日在福岡縣舉行的“SWTest Asia 2024”展會上進行展板展示,並計劃在年內提供樣品。

 

田中貴金屬工業製造和提供在半導體製造前段及後段工序中檢查裝置用的各種貴金屬探針材料。此次發布的“TK-SK”作為探針用鈀合金材料,最大硬度為640HV,因此預計主要用於後段工序最終測試中通電測試的插座。

近年來,雖然對更高硬度探針的需求日益增加,但存在着一旦提高硬度,切削時更易損壞等材料加工變難的課題,而且市場上流通的鈀合金類材料最大硬度約為560HV。此次,田中貴金屬工業利用自有的加工技術,成功開發了硬度到達640HV的“TK-SK”。對於本產品,我們的目標是在2028年前出貨量達到現有產品的1.5倍。

在測試用插座中,探針使用的是彈簧頂針式(POGO PIN型)探針。在檢查過程中,探針的尖端(針頭)會因為與基板接觸時產生的摩擦而磨損變形。此外,如果針頭上粘附了焊料,為了清潔需要刮掉焊料,此時針頭也會因磨損而變形。由於檢查時發生的變形,檢查裝置的探針需要定期維護,但通過採用更高硬度的探針,可以減少半導體檢查裝置中探針磨損帶來的變形,有助於延長檢查裝置的使用壽命和降低成本。

田中貴金屬工業的目標是今後也為預期不斷擴大的半導體市場發展做出貢獻。

“TK-SK”產品性質參考值

 

展會參展詳情

展會名稱:SWTest Asia 2024
展期:2024年10月24日10:00~15:30、10月25日10:00~16:00
展會場地:福岡海鷹希爾頓酒店(福岡縣福岡市)
參展公司:田中貴金屬工業株式會社
展位編號:210
展板展示內容:探針用鈀合金材料“TK-SK(線)、TK-FS(線、板)”、探針用銅銀合金材料“TK-101(板)”、探針卡用貴金屬電鍍液
關於田中貴金屬集團

田中貴金屬集團自1885 年(明治18年)創業以來,營業範圍以貴金屬為中心,並以此展開廣泛活動。公司在日本國內擁有非常可觀的貴金屬交易量, 長年以來不遺餘力地進行工業用貴金屬製品的製造和銷售,以及提供作為寶石飾品及資產的貴金屬商品。並且,作為貴金屬相關的專家集團,日本國內外的各集團公司進行製造、銷售以及技術一體化,攜手合作提供產品及服務。2023年度(截至2023年12月)集團總營業額為6,111億日元,擁有5,355名員工。

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